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특허현황
6
반도체 소자 테스트용 프로브카드
12-22
5
반도체 Wafer probing system
12-22
4
메모리 모듈 검사 기관에 사용하는 인터페이스 기관
12-22
3
광센서 및 그 패키징 방법
12-22
2
관통 전극을 통한 웨이퍼 화면에 외부접속단자를 형성시킨 웨이퍼 레벨 칩스케일 패키지 제조 방법
12-22
1
COMS 카메라 시스템용 이미지 센서 장치
12-22
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